O uso Simultâneo das Técnicas XPS e EXAFS no Estudo de Superfícies - Gonçalves, José Eduardo (AKRÓPOLIS - Revista de Ciências Humanas da UNIPAR, 2008)
A compreensão das propriedades física se químicas da últimas camadas atômicas dos materiais são fundamentais em vários processos tecnológicos importantes. A espectroscopia “XPS” é a principal técnica utilizada na caracterização de superfície e nos fornecem informações sobre a composição atômico da superfície, natureza e ligação dos átomos. Já a espectroscopia “EXAFS” e “XANES” , utilizando radiações síncrotron, são as principais técnicas na caracterização do bulke e nos fornecem informações sobre a estrutura local (número de coordenação, distâncias interatômics). A utilização em conjunto destas técnicas leva a informações precisas sobre a composição da superfície e do bulk para um determinado composto, esclarecendo as informações estruturais, bem como suas propriedades.